26 -May -2024 - 10:26
Difracción de Rayos X de Polvos

Características:

Fuente de rayos X: Tubo de descarga con ánodo de cobre (Kα1 = 0.1540 Å). Ideal para la mayoría de análisis de polvos.

Detector: unidimensional (LinxEye fast speed) con área activa de 14 mm x 16 mm y eficiencia >98%.

Perfecto para todas las aplicaciones en difracción de rayos X de polvos, incluyendo identificación de fases, entre otras.

Aplicaciones:

La difracción de rayos X de polvos (DRX) es una técnica no destructiva que sirve para analizar un amplio rango de materiales, tales como minerales, polímeros, catalizadores, plásticos, compuestos farmacéuticos, cerámicos y semiconductores, entre otros.

La DRX ha llegado a ser un método indispensable para la caracterización y control de calidad de diversos materiales. Por ejemplo: identificación de fases, identificación de polimorfos y determinación de parámetros de la estructura cristalina por comparación con la base de datos PDF-2.

Equipo disponible:

Difractómetro de rayos X Bruker D8 Advance LinxEye

Responsables:

Dra. Rosa María Gómez Espinosa

Dr. Uvaldo Hernández Balderas

Documentos:

Lineamientos (PDF)
Protocolo de recepción de muestras (PDF)

Guía de llenado de solicitud de servicio electrónica
Solicitud de llenado electrónica

Información sobre servicio de análisis externos:

Servicios Analíticos CCIQS-UNAM
Dr. Diego Martínez Otero y Marcela Guadarrama Aguilar
Carretera Toluca-Atlacomulco km 14.5, campus El Rosedal de la UAEM
Toluca, Estado de México, C.P. 50200
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Tel: (01 722) 276 66 10 Ext 7736 y 7702

Dr. Jesús Pastor Medrano
Responsable administrativo del CCIQS UAEM-UNAM
Centro Conjunto de Investigación en Química Sustentable CCIQS UAEM-UNAM
Carretera Toluca-Atlacomulco km 14.5, Toluca, Estado de México, C.P. 50200
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Tel. (01 722) 276 6610 ext. 7705