Características:
Microscopio invertido, campo claro y contraste de fases. Cuenta con lámpara UV.
Láseres Solid State clase 3B/IIIb: Longitudes de onda de emisión: 405nm, 488nm, 532nm y 635nm.
Objetivos:10X, 40X y 63X.
Software: LAS AF para reconstrucción 3D.
Aplicaciones:
Permite obtener imágenes e identificar y localizar componentes moleculares específicos con la particularidad de no ser una técnica destructiva. Análisis de co-localización, Inmunofluorescencia y detección de sonda, 3-Series Z (Reconstrucciones 3-D).
Equipo disponible:
Microscopía Confocal de Barrido Láser (CLSM), modelo TCS SPE / CTR 4000, marca LEICA
Responsable:
Técnico Académico M. en C. Melina Tapia-T.
Ubicación
Edificio B, planta baja, Laboratorio XPS, Microscopía AFM y Confocal (CLSM)
Tel. (722) 2766610 Ext. 7739
Documentos:
Lineamientos (PDF) Protocolo de recepción de muestras (PDF)
Guía de llenado de solicitud de servicio electrónica Solicitud de llenado electrónica
Informes y Servicios Externos
Servicios Analíticos CCIQS-UNAM
Dr. Diego Martínez Otero y Marcela Guadarrama Aguilar
Carretera Toluca-Atlacomulco km 14.5, campus El Rosedal de la UAEM
Toluca, Estado de México, C.P. 50200
Email:
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Tel: (01 722) 276 66 10 Ext 7736 y 7702
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