23 -June -2024 - 15:11
Microscopio de Fuerza Atómica (AFM)


Características:

Modo de operación: Oscilatorio (Tapping) y Contacto.

Escáner: máximo 90 µm2, mínimo  ≈1 µm2 imágenes de 192 a 448 puntos por líneas.

Medio de trabajo: Modo ambiental.

Tipo de muestras: Conductivas, no conductivas, material biológico (células, tejidos, etc.), alimentos, metales, cerámicos, películas delgadas, cristales, polvos, pinturas, nanoparticulas, alimentos, etc.

Aplicaciones:

El Microscopio de Fuerza Atómica sirve para caracterizar la superficie de muestras sólidas y semisólidas, relativamente planas. Obtiene información morfológica en 3D, a partir de  imágenes topográficas de las mismas, así como parámetros superficiales tales como valores en Z, rugosidad, tamaño y límites de grano, distribución (homogeneidad) de partículas en pinturas o películas delgadas, entre otras. También se emplea en la determinación de propiedades mecánicas de los materiales, tales como fuerzas de atracción, repulsión, viscosidad, elasticidad y dureza.

Equipo disponible:

Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) ASYLUM RESEARCH, modelo MFP-3D Origin

Responsable:

Técnico Académico  M. en C. Melina Tapia-T.

Ubicación

Edificio B, planta baja, Laboratorio XPS, Microscopía AFM y Confocal (CLSM)

Tel. (722) 2766610 Ext. 7739

Documentos:

Lineamientos (PDF)
Protocolo de recepción de muestras (PDF)

Guía de llenado de solicitud de servicio electrónica
Solicitud de llenado electrónica

INFORMES Y SERVICIOS EXTERNOS:

Servicios Analíticos CCIQS-UNAM

Dr. Diego Martínez Otero y Marcela Guadarrama Aguilar
Carretera Toluca-Atlacomulco km 14.5, campus El Rosedal de la UAEM
Toluca, Estado de México, C.P. 50200
Email: Esta dirección de correo electrónico está protegida contra robots de spam. Necesita activar JavaScript para poder verla
Tel: (01 722) 276 66 10 Ext 7736 y 7702